Для кого этот курс? Для специалистов лабораторий (химиков, биологов, материаловедов, микробиологов), инженеров по контролю качества, технологов и всех, кто хочет освоить современные методы микроскопического анализа или систематизировать имеющиеся знания. Вы пройдете путь от базовых принципов работы светового микроскопа до возможностей сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). Мы разберем, как правильно подготовить препараты, какое оборудование выбрать для конкретных задач (поиск загрязнений, контроль чистоты, анализ структуры материала) и как интерпретировать полученные данные. Курс построен на балансе фундаментальной теории и практических кейсов.
Цель
Совершенствование и (или) получение новой компетенции, необходимой для профессиональной деятельности, и (или) повышение профессионального уровня в рамках имеющейся квалификации. Сформировать у обучающихся системное понимание методов современной микроскопии (от оптической до электронной), развить практические навыки работы с оборудованием и научить применять полученные компетенции для идентификации микроструктур, анализа загрязнений и микробиологического контроля в лабораторной практике.
Режим обучения
Определяется совместно с организацией заказчика, но не более 8-ми часов в день.
Требования к уровню подготовки поступающего на обучение
К освоению дополнительной профессиональной программы допускаются лица, имеющие среднее профессиональное и (или) высшее образование; либо лица, получающие среднее профессиональное и (или) высшее образование.
Стоимость обучения
Форма обучения
Дата
Стоимость
Очная
идет набор группы
по запросу
Очная с выездом к Заказчику
по запросу
по запросу
Заочная с применением дистанционных технологий
ежедневно
от 7 500 руб.
Учебный план «Микроскопия в лабораторной практике: от оптической до электронной. Теория, оборудование и практика использования»
№
Наименование разделов и дисциплин
1
Основы оптической микроскопии и методы подготовки образцов
1.1
Физические принципы работы светового микроскопа: трассировка лучей, разрешение, увеличение, числовая апертура и дифракционный предел. Устройство и типы современных микроскопов: инвертированные, стереоскопические, поляризационные. Выбор объективов и окуляров
1.2
Методы световой микроскопии: светлое и темное поле, фазовый контраст, дифференциальный интерференционный контраст (DIC)
1.3
Препаративные техники: приготовление фиксированных и окрашенных препаратов, прижизненные исследования (в т.ч. микроскопия «в капле»), изготовление шлифов и срезов
1.4
Практика настройки и калибровки: настройка освещения по Кёлеру, калибровка микрометрической линейки, уход за оптикой
2
Люминесцентная и конфокальная микроскопия в контроле качества
2.1
Основы флуоресценции: механизмы свечения, стоксов сдвиг, понятие флуорохромов и аутофлуоресценции. Люминесцентная микроскопия: устройство, наборы фильтров, применение для экспресс-анализа загрязнений и контроля микробиологии
2.2
Конфокальная лазерная сканирующая микроскопия (CLSM): принцип «пинхола», получение оптических срезов и 3D-реконструкция рельефа поверхности
2.3
FRAP, FRET и другие методы: продвинутые техники для изучения динамических процессов в материалах и клетках
2.4
Количественный анализ: измерение толщины покрытий, шероховатости поверхности и объема частиц по 3D-данным
3
Растровая электронная микроскопия (СЭМ): теория и возможности
3.1
Физика взаимодействия электронного пучка с образцом: генерация вторичных (SE) и обратно-рассеянных электронов (BSE), характеристическое рентгеновское излучение
3.2
Устройство СЭМ: электронная пушка, электромагнитные линзы, вакуумная система, детекторы
3.3
Режимы визуализации: топографический контраст в SE, фазовый и Z-контраст в BSE (различие материалов по атомному номеру)
3.4
Подготовка образцов для СЭМ: фиксация, обезвоживание, напыление токопроводящих слоев (углерод, золото/палладий), работа с непроводящими материалами
3.5
Элементный анализ (ЭДС/EDS): основы рентгеноспектрального микроанализа, качественное и количественное определение состава микровключений и загрязнений
4
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) и гибридные методы
4.1
Основы ПЭМ: формирование изображения прошедшими электронами, дифракция электронов (электронограмма). Контраст в ПЭМ: амплитудный и фазовый контраст, методы темного поля
4.2
Ультраструктурные исследования: анализ кристаллических решеток, дислокаций, наночастиц, вирусных частиц и внутренних структур клеток
4.3
Пробоподготовка для ПЭМ: ультрамикротомия, методы контрастирования среза тяжелыми металлами, ионное утонение
4.4
Интегральные методы: корреляционная микроскопия (CLEM) — совмещение данных флуоресцентной и электронной микроскопии
5
Практическая идентификация, анализ загрязнений и микробиологический контроль
5.1
Идентификация структур материалов: анализ изломов (фрактография), определение причин разрушения, исследование слоистых структур и покрытий
5.2
Протоколы поиска и анализа загрязнений: идентификация частиц, волокон, остатков технологических сред. Определение «источника» загрязнения по морфологии и составу
5.3
Микробиологический контроль: быстрая идентификация микроорганизмов (бактерии, грибы) по морфологии колоний и клеток, оценка биопленок
5.4
Количественные методы: подсчет частиц и микроорганизмов на фильтрах, анализ гранулометрического состава, статистическая обработка данных (гистограммы распределения)
6
Итоговая аттестация
Выдаваемые документы
По окончании обучения слушателям, прошедшим успешно итоговую аттестацию выдается удостоверение о повышении квалификации «Микроскопия в лабораторной практике: от оптической до электронной. Теория, оборудование и практика использования», действующий на всей территории РФ. Бланк удостоверения о повышении квалификации защищен от подделок полиграфической продукции.
Код программы:
Срок обучения:
